ਉੱਚ ਸ਼ਕਤੀ ਵਾਲੇ MOSFET ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਅਤੇ ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਨਾਲ ਬਦਲਣ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਨਾ ਹਮੇਸ਼ਾ ਮੁਸ਼ਕਲ ਕਿਉਂ ਹੁੰਦਾ ਹੈ?

ਉੱਚ-ਪਾਵਰ MOSFET ਬਾਰੇ ਚਰਚਾ ਕਰਨ ਲਈ ਉਤਸੁਕ ਇੰਜੀਨੀਅਰਾਂ ਵਿੱਚੋਂ ਇੱਕ ਰਿਹਾ ਹੈ, ਇਸ ਲਈ ਅਸੀਂ ਆਮ ਅਤੇ ਅਸਧਾਰਨ ਗਿਆਨ ਨੂੰ ਸੰਗਠਿਤ ਕੀਤਾ ਹੈMOSFET, ਮੈਂ ਇੰਜੀਨੀਅਰਾਂ ਦੀ ਮਦਦ ਕਰਨ ਦੀ ਉਮੀਦ ਕਰਦਾ ਹਾਂ. ਆਓ MOSFET ਬਾਰੇ ਗੱਲ ਕਰੀਏ, ਇੱਕ ਬਹੁਤ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਭਾਗ!

ਵਿਰੋਧੀ ਸਥਿਰ ਸੁਰੱਖਿਆ

ਹਾਈ-ਪਾਵਰ MOSFET ਇੱਕ ਇੰਸੂਲੇਟਿਡ ਗੇਟ ਫੀਲਡ ਇਫੈਕਟ ਟਿਊਬ ਹੈ, ਗੇਟ ਕੋਈ ਸਿੱਧਾ ਕਰੰਟ ਸਰਕਟ ਨਹੀਂ ਹੈ, ਇੰਪੁੱਟ ਅੜਿੱਕਾ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਹੈ, ਸਥਿਰ ਚਾਰਜ ਐਗਰੀਗੇਸ਼ਨ ਦਾ ਕਾਰਨ ਬਣਨਾ ਬਹੁਤ ਆਸਾਨ ਹੈ, ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਇੱਕ ਉੱਚ ਵੋਲਟੇਜ ਗੇਟ ਅਤੇ ਸਰੋਤ ਹੋਵੇਗਾ ਟੁੱਟਣ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਇੰਸੂਲੇਟਿੰਗ ਪਰਤ।

MOSFETs ਦੇ ਬਹੁਤੇ ਸ਼ੁਰੂਆਤੀ ਉਤਪਾਦਨ ਵਿੱਚ ਐਂਟੀ-ਸਟੈਟਿਕ ਉਪਾਅ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਇਸ ਲਈ ਹਿਰਾਸਤ ਅਤੇ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨ ਵਿੱਚ ਬਹੁਤ ਸਾਵਧਾਨ ਰਹੋ, ਖਾਸ ਤੌਰ 'ਤੇ ਛੋਟੀ ਪਾਵਰ MOSFETs, ਛੋਟੀ ਪਾਵਰ ਦੇ ਕਾਰਨ MOSFET ਇਨਪੁਟ ਸਮਰੱਥਾ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਛੋਟੀ ਹੈ, ਜਦੋਂ ਸਥਿਰ ਬਿਜਲੀ ਪੈਦਾ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਉੱਚ ਵੋਲਟੇਜ, ਆਸਾਨੀ ਨਾਲ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਸਟੈਟਿਕ ਟੁੱਟਣ ਕਾਰਨ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।

ਉੱਚ-ਪਾਵਰ MOSFET ਦਾ ਹਾਲ ਹੀ ਵਿੱਚ ਵਾਧਾ ਇੱਕ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਵੱਡਾ ਅੰਤਰ ਹੈ, ਸਭ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ, ਇੱਕ ਵੱਡੇ ਇਨਪੁਟ ਸਮਰੱਥਾ ਦੇ ਫੰਕਸ਼ਨ ਦੇ ਕਾਰਨ ਵੀ ਵੱਡਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਇਸਲਈ ਸਥਿਰ ਬਿਜਲੀ ਨਾਲ ਸੰਪਰਕ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਚਾਰਜਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਇੱਕ ਛੋਟੀ ਵੋਲਟੇਜ, ਟੁੱਟਣ ਦਾ ਕਾਰਨ ਬਣਦੀ ਹੈ। ਛੋਟੇ ਹੋਣ ਦੀ ਸੰਭਾਵਨਾ, ਅਤੇ ਫਿਰ ਦੁਬਾਰਾ, ਹੁਣ ਅੰਦਰੂਨੀ ਗੇਟ ਵਿੱਚ ਉੱਚ-ਪਾਵਰ MOSFET ਅਤੇ ਗੇਟ ਦੇ ਸਰੋਤ ਅਤੇ ਇੱਕ ਸੁਰੱਖਿਅਤ ਦੇ ਸਰੋਤ ਰੈਗੂਲੇਟਰ DZ, ਹੇਠਾਂ ਰੈਗੂਲੇਟਰ ਡਾਇਡ ਵੋਲਟੇਜ ਰੈਗੂਲੇਟਰ ਮੁੱਲ ਦੀ ਸੁਰੱਖਿਆ ਵਿੱਚ ਏਮਬੇਡ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸਥਿਰ, ਇੰਸੂਲੇਟਿੰਗ ਲੇਅਰ ਦੇ ਗੇਟ ਅਤੇ ਸਰੋਤ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਸ਼ਾਲੀ ਢੰਗ ਨਾਲ ਸੁਰੱਖਿਅਤ ਕਰੋ, ਵੱਖ-ਵੱਖ ਪਾਵਰ, MOSFET ਸੁਰੱਖਿਆ ਰੈਗੂਲੇਟਰ ਦੇ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਮਾਡਲ ਡਾਇਡ ਵੋਲਟੇਜ ਰੈਗੂਲੇਟਰ ਮੁੱਲ ਵੱਖਰਾ ਹੈ।

ਹਾਲਾਂਕਿ ਉੱਚ-ਪਾਵਰ MOSFET ਅੰਦਰੂਨੀ ਸੁਰੱਖਿਆ ਉਪਾਅ, ਸਾਨੂੰ ਐਂਟੀ-ਸਟੈਟਿਕ ਓਪਰੇਟਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਦੇ ਅਨੁਸਾਰ ਕੰਮ ਕਰਨਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ, ਜੋ ਕਿ ਇੱਕ ਯੋਗ ਰੱਖ-ਰਖਾਅ ਸਟਾਫ ਕੋਲ ਹੋਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ।

ਖੋਜ ਅਤੇ ਬਦਲ

ਟੈਲੀਵਿਜ਼ਨ ਅਤੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰੀਕਲ ਉਪਕਰਣਾਂ ਦੀ ਮੁਰੰਮਤ ਵਿੱਚ, ਕਈ ਤਰ੍ਹਾਂ ਦੇ ਕੰਪੋਨੈਂਟ ਨੁਕਸਾਨ ਦਾ ਸਾਹਮਣਾ ਕਰੇਗਾ,MOSFETਉਹਨਾਂ ਵਿੱਚੋਂ ਇੱਕ ਵੀ ਹੈ, ਜੋ ਕਿ ਸਾਡੇ ਰੱਖ-ਰਖਾਅ ਦੇ ਸਟਾਫ ਨੂੰ ਚੰਗੇ ਅਤੇ ਮਾੜੇ, ਚੰਗੇ ਅਤੇ ਮਾੜੇ MOSFET ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵਰਤੇ ਜਾਣ ਵਾਲੇ ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨ ਦਾ ਤਰੀਕਾ ਹੈ। MOSFET ਦੇ ਬਦਲਣ ਵਿੱਚ ਜੇਕਰ ਕੋਈ ਸਮਾਨ ਨਿਰਮਾਤਾ ਅਤੇ ਇੱਕੋ ਮਾਡਲ ਨਹੀਂ ਹੈ, ਤਾਂ ਸਮੱਸਿਆ ਨੂੰ ਕਿਵੇਂ ਬਦਲਣਾ ਹੈ.

1, ਉੱਚ-ਪਾਵਰ MOSFET ਟੈਸਟ:

ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਟਰਾਂਜ਼ਿਸਟਰਾਂ ਜਾਂ ਡਾਇਡਸ ਦੇ ਮਾਪ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਆਮ ਇਲੈਕਟ੍ਰੀਕਲ ਟੀਵੀ ਰਿਪੇਅਰ ਕਰਮਚਾਰੀ ਹੋਣ ਦੇ ਨਾਤੇ, ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਚੰਗੇ ਅਤੇ ਮਾੜੇ ਟਰਾਂਜ਼ਿਸਟਰਾਂ ਜਾਂ ਡਾਇਓਡਾਂ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਆਮ ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ, ਹਾਲਾਂਕਿ ਟਰਾਂਜ਼ਿਸਟਰ ਜਾਂ ਡਾਇਓਡ ਦੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰੀਕਲ ਪੈਰਾਮੀਟਰਾਂ ਦੇ ਨਿਰਣੇ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਨਹੀਂ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ, ਪਰ ਜਿੰਨਾ ਚਿਰ ਵਿਧੀ ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਟਰਾਂਜ਼ਿਸਟਰਾਂ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਲਈ ਸਹੀ ਹੈ "ਚੰਗੇ" ਅਤੇ "ਬੁਰੇ" ਜਾਂ "ਬੁਰੇ" ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਲਈ ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਟਰਾਂਜ਼ਿਸਟਰ. "ਬੁਰਾ" ਜਾਂ ਕੋਈ ਸਮੱਸਿਆ ਨਹੀਂ। ਇਸੇ ਤਰ੍ਹਾਂ, MOSFET ਵੀ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ

ਇਸ ਦੇ "ਚੰਗੇ" ਅਤੇ "ਮਾੜੇ" ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਨੂੰ ਲਾਗੂ ਕਰਨ ਲਈ, ਆਮ ਰੱਖ-ਰਖਾਅ ਤੋਂ, ਲੋੜਾਂ ਨੂੰ ਵੀ ਪੂਰਾ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ.

ਖੋਜ ਲਈ ਇੱਕ ਪੁਆਇੰਟਰ ਕਿਸਮ ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨੀ ਚਾਹੀਦੀ ਹੈ (ਡਿਜੀਟਲ ਮੀਟਰ ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਡਿਵਾਈਸਾਂ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਲਈ ਢੁਕਵਾਂ ਨਹੀਂ ਹੈ)। ਪਾਵਰ-ਟਾਈਪ MOSFET ਸਵਿਚਿੰਗ ਟਿਊਬ ਲਈ N-ਚੈਨਲ ਸੁਧਾਰ ਹਨ, ਨਿਰਮਾਤਾਵਾਂ ਦੇ ਉਤਪਾਦ ਲਗਭਗ ਸਾਰੇ ਇੱਕੋ TO-220F ਪੈਕੇਜ ਫਾਰਮ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰ ਰਹੇ ਹਨ (ਫੀਲਡ ਇਫੈਕਟ ਸਵਿਚਿੰਗ ਟਿਊਬ ਦੀ 50-200W ਦੀ ਪਾਵਰ ਲਈ ਸਵਿਚਿੰਗ ਪਾਵਰ ਸਪਲਾਈ ਦਾ ਹਵਾਲਾ ਦਿੰਦਾ ਹੈ) , ਤਿੰਨ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਡ ਵਿਵਸਥਾ ਵੀ ਇਕਸਾਰ ਹੈ, ਯਾਨੀ ਤਿੰਨ

ਪਿੰਨ ਡਾਊਨ ਕਰੋ, ਪ੍ਰਿੰਟ ਮਾਡਲ ਆਪਣੇ ਵੱਲ ਮੂੰਹ ਕਰੋ, ਗੇਟ ਲਈ ਖੱਬਾ ਪਿੰਨ, ਸਰੋਤ ਲਈ ਸੱਜਾ ਟੈਸਟ ਪਿੰਨ, ਡਰੇਨ ਲਈ ਵਿਚਕਾਰਲਾ ਪਿੰਨ।

(1) ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਅਤੇ ਸੰਬੰਧਿਤ ਤਿਆਰੀਆਂ:

ਸਭ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ, ਮਾਪਣ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨ ਦੇ ਯੋਗ ਹੋਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ, ਖਾਸ ਤੌਰ 'ਤੇ ਓਮ ਗੇਅਰ ਦੀ ਵਰਤੋਂ, ਓਮ ਬਲਾਕ ਨੂੰ ਸਮਝਣ ਲਈ ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਟਰਾਂਜ਼ਿਸਟਰ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਲਈ ਓਮ ਬਲਾਕ ਦੀ ਸਹੀ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨ ਹੋਵੇਗੀ ਅਤੇMOSFET.

ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਦੇ ਨਾਲ ਓਮ ਬਲਾਕ ਓਮ ਸੈਂਟਰ ਸਕੇਲ ਬਹੁਤ ਵੱਡਾ ਨਹੀਂ ਹੋ ਸਕਦਾ, ਤਰਜੀਹੀ ਤੌਰ 'ਤੇ 12 Ω (12 Ω ਲਈ 500-ਕਿਸਮ ਦੀ ਸਾਰਣੀ) ਤੋਂ ਘੱਟ, ਤਾਂ ਕਿ R × 1 ਬਲਾਕ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਵੱਡਾ ਕਰੰਟ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਫਾਰਵਰਡ ਦੇ PN ਜੰਕਸ਼ਨ ਲਈ ਨਿਰਣੇ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਵਧੇਰੇ ਸਹੀ ਹਨ। ਮਲਟੀਮੀਟਰ R × 10K ਬਲਾਕ ਅੰਦਰੂਨੀ ਬੈਟਰੀ 9V ਤੋਂ ਵਧੀਆ ਹੈ, ਤਾਂ ਜੋ PN ਜੰਕਸ਼ਨ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਵਿੱਚ ਉਲਟ ਲੀਕੇਜ ਕਰੰਟ ਵਧੇਰੇ ਸਹੀ ਹੋਵੇ, ਨਹੀਂ ਤਾਂ ਲੀਕੇਜ ਨੂੰ ਮਾਪਿਆ ਨਹੀਂ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।

ਹੁਣ ਉਤਪਾਦਨ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੀ ਪ੍ਰਗਤੀ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਫੈਕਟਰੀ ਸਕ੍ਰੀਨਿੰਗ, ਟੈਸਟਿੰਗ ਬਹੁਤ ਸਖਤ ਹੈ, ਅਸੀਂ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਨਿਰਣਾ ਕਰਦੇ ਹਾਂ ਜਿੰਨਾ ਚਿਰ MOSFET ਦਾ ਨਿਰਣਾ ਲੀਕ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦਾ, ਸ਼ਾਰਟ ਸਰਕਟ ਦੁਆਰਾ ਨਹੀਂ ਟੁੱਟਦਾ, ਅੰਦਰੂਨੀ ਗੈਰ-ਸਰਕਟਿੰਗ, ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ. ਰਸਤੇ ਵਿੱਚ ਵਿਸਤ੍ਰਿਤ, ਵਿਧੀ ਬਹੁਤ ਸਧਾਰਨ ਹੈ:

ਇੱਕ ਮਲਟੀਮੀਟਰ R × 10K ਬਲਾਕ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨਾ; R × 10K ਬਲਾਕ ਅੰਦਰੂਨੀ ਬੈਟਰੀ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ 9V ਪਲੱਸ 1.5V ਤੋਂ 10.5V ਤੱਕ ਹੁੰਦੀ ਹੈ ਇਸ ਵੋਲਟੇਜ ਨੂੰ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕਾਫ਼ੀ PN ਜੰਕਸ਼ਨ ਇਨਵਰਸ਼ਨ ਲੀਕੇਜ ਮੰਨਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਦਾ ਲਾਲ ਪੈੱਨ ਨਕਾਰਾਤਮਕ ਸੰਭਾਵੀ (ਅੰਦਰੂਨੀ ਬੈਟਰੀ ਦੇ ਨਕਾਰਾਤਮਕ ਟਰਮੀਨਲ ਨਾਲ ਜੁੜਿਆ ਹੋਇਆ ਹੈ), ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਦਾ ਕਾਲਾ ਪੈੱਨ ਸਕਾਰਾਤਮਕ ਸੰਭਾਵੀ ਹੈ (ਅੰਦਰੂਨੀ ਬੈਟਰੀ ਦੇ ਸਕਾਰਾਤਮਕ ਟਰਮੀਨਲ ਨਾਲ ਜੁੜਿਆ ਹੋਇਆ)।

(2) ਟੈਸਟ ਵਿਧੀ:

ਲਾਲ ਪੈੱਨ ਨੂੰ MOSFET S ਦੇ ਸਰੋਤ ਨਾਲ ਕਨੈਕਟ ਕਰੋ; ਕਾਲੇ ਪੈੱਨ ਨੂੰ MOSFET D ਦੇ ਡਰੇਨ ਨਾਲ ਜੋੜੋ। ਇਸ ਸਮੇਂ, ਸੂਈ ਦਾ ਸੰਕੇਤ ਅਨੰਤ ਹੋਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਜੇਕਰ ਕੋਈ ਓਮਿਕ ਇੰਡੈਕਸ ਹੈ, ਜੋ ਇਹ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ ਕਿ ਟੈਸਟ ਦੇ ਅਧੀਨ ਟਿਊਬ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਲੀਕ ਹੋਣ ਦੀ ਘਟਨਾ ਹੈ, ਤਾਂ ਇਸ ਟਿਊਬ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਨਹੀਂ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ।

ਉਪਰੋਕਤ ਰਾਜ ਨੂੰ ਕਾਇਮ ਰੱਖਣਾ; ਇਸ ਸਮੇਂ ਗੇਟ ਅਤੇ ਡਰੇਨ ਨਾਲ ਜੁੜੇ ਇੱਕ 100K ~ 200K ਰੋਧਕ ਦੇ ਨਾਲ; ਇਸ ਸਮੇਂ ਸੂਈ ਨੂੰ ਓਮ ਦੀ ਸੰਖਿਆ ਜਿੰਨੀ ਛੋਟੀ ਦੱਸੀ ਜਾ ਸਕਦੀ ਹੈ, ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ 0 ohms ਵੱਲ ਸੰਕੇਤ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਇਸ ਸਮੇਂ ਇਹ MOSFET ਗੇਟ ਚਾਰਜਿੰਗ 'ਤੇ 100K ਰੋਧਕ ਦੁਆਰਾ ਇੱਕ ਸਕਾਰਾਤਮਕ ਚਾਰਜ ਹੈ, ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਇੱਕ ਗੇਟ ਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਫੀਲਡ, ਕਾਰਨ ਸੰਚਾਲਕ ਚੈਨਲ ਦੁਆਰਾ ਉਤਪੰਨ ਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਫੀਲਡ ਜਿਸ ਦੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਡਰੇਨ ਅਤੇ ਸਰੋਤ ਸੰਚਾਲਨ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਇਸਲਈ ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਸੂਈ ਡਿਫਲੈਕਸ਼ਨ, ਡਿਫਲੈਕਸ਼ਨ ਕੋਣ ਹੈ ਵੱਡਾ (ਓਮ ਦਾ ਸੂਚਕਾਂਕ ਛੋਟਾ ਹੈ) ਇਹ ਸਾਬਤ ਕਰਨ ਲਈ ਕਿ ਡਿਸਚਾਰਜ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ ਵਧੀਆ ਹੈ।

ਅਤੇ ਫਿਰ ਹਟਾਇਆ resistor ਨਾਲ ਜੁੜਿਆ, ਫਿਰ ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਪੁਆਇੰਟਰ ਅਜੇ ਵੀ ਸੂਚਕਾਂਕ 'ਤੇ MOSFET ਹੋਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ ਕੋਈ ਬਦਲਾਅ ਨਹੀਂ ਰਹਿੰਦਾ. ਹਾਲਾਂਕਿ ਰੋਧਕ ਨੂੰ ਦੂਰ ਕਰਨ ਲਈ, ਪਰ ਕਿਉਂਕਿ ਚਾਰਜ ਦੁਆਰਾ ਚਾਰਜ ਕੀਤੇ ਗੇਟ ਨੂੰ ਰੋਧਕ ਅਲੋਪ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦਾ, ਗੇਟ ਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਫੀਲਡ ਅੰਦਰੂਨੀ ਕੰਡਕਟਿਵ ਚੈਨਲ ਨੂੰ ਅਜੇ ਵੀ ਬਰਕਰਾਰ ਰੱਖਦਾ ਹੈ, ਜੋ ਕਿ ਇੰਸੂਲੇਟਡ ਗੇਟ ਕਿਸਮ MOSFET ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਹਨ.

ਜੇ ਸੂਈ ਨੂੰ ਦੂਰ ਕਰਨ ਲਈ ਰੋਧਕ ਹੌਲੀ-ਹੌਲੀ ਅਤੇ ਹੌਲੀ-ਹੌਲੀ ਉੱਚ ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਤੇ ਵਾਪਸ ਆ ਜਾਵੇਗਾ ਜਾਂ ਅਨੰਤਤਾ ਵੱਲ ਵੀ ਵਾਪਸ ਆ ਜਾਵੇਗਾ, ਤਾਂ ਇਹ ਵਿਚਾਰ ਕਰਨ ਲਈ ਕਿ ਮਾਪਿਆ ਟਿਊਬ ਗੇਟ ਲੀਕੇਜ ਹੈ।

ਇਸ ਸਮੇਂ ਇੱਕ ਤਾਰ ਦੇ ਨਾਲ, ਟੈਸਟ ਦੇ ਅਧੀਨ ਟਿਊਬ ਦੇ ਗੇਟ ਅਤੇ ਸਰੋਤ ਨਾਲ ਜੁੜਿਆ ਹੋਇਆ ਹੈ, ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਦਾ ਪੁਆਇੰਟਰ ਤੁਰੰਤ ਅਨੰਤਤਾ 'ਤੇ ਵਾਪਸ ਆ ਗਿਆ। ਤਾਰਾਂ ਦਾ ਕੁਨੈਕਸ਼ਨ ਤਾਂ ਕਿ ਮਾਪਿਆ MOSFET, ਗੇਟ ਚਾਰਜ ਰੀਲੀਜ਼, ਅੰਦਰੂਨੀ ਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਫੀਲਡ ਗਾਇਬ ਹੋ ਜਾਵੇ; ਸੰਚਾਲਕ ਚੈਨਲ ਵੀ ਅਲੋਪ ਹੋ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਇਸਲਈ ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਡਰੇਨ ਅਤੇ ਸਰੋਤ ਅਤੇ ਅਨੰਤ ਬਣ ਜਾਂਦੇ ਹਨ।

2, ਉੱਚ-ਪਾਵਰ MOSFET ਤਬਦੀਲੀ

ਟੈਲੀਵਿਜ਼ਨਾਂ ਅਤੇ ਹਰ ਕਿਸਮ ਦੇ ਬਿਜਲਈ ਉਪਕਰਣਾਂ ਦੀ ਮੁਰੰਮਤ ਵਿੱਚ, ਕੰਪੋਨੈਂਟ ਦੇ ਨੁਕਸਾਨ ਦਾ ਸਾਹਮਣਾ ਕਰਨ ਵਾਲੇ ਹਿੱਸੇ ਨੂੰ ਉਸੇ ਕਿਸਮ ਦੇ ਭਾਗਾਂ ਨਾਲ ਬਦਲਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਹਾਲਾਂਕਿ, ਕਈ ਵਾਰ ਉਹੀ ਭਾਗ ਹੱਥ 'ਤੇ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਇਸ ਲਈ ਹੋਰ ਕਿਸਮਾਂ ਦੀ ਤਬਦੀਲੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨ ਦੀ ਜ਼ਰੂਰਤ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਤਾਂ ਜੋ ਸਾਨੂੰ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ, ਮਾਪਦੰਡ, ਮਾਪ, ਆਦਿ ਦੇ ਸਾਰੇ ਪਹਿਲੂਆਂ ਨੂੰ ਧਿਆਨ ਵਿੱਚ ਰੱਖਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਲਾਈਨ ਆਉਟਪੁੱਟ ਟਿਊਬ ਦੇ ਅੰਦਰ ਟੈਲੀਵਿਜ਼ਨ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਜਿੰਨਾ ਚਿਰ ਵੋਲਟੇਜ, ਕਰੰਟ, ਪਾਵਰ ਨੂੰ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਬਦਲਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ (ਲਾਈਨ ਆਉਟਪੁੱਟ ਟਿਊਬ ਲਗਭਗ ਦਿੱਖ ਦੇ ਇੱਕੋ ਜਿਹੇ ਮਾਪ), ਅਤੇ ਪਾਵਰ ਵੱਡਾ ਅਤੇ ਬਿਹਤਰ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।

MOSFET ਬਦਲਣ ਲਈ, ਹਾਲਾਂਕਿ ਇਹ ਸਿਧਾਂਤ ਵੀ, ਸਭ ਤੋਂ ਵਧੀਆ ਪ੍ਰੋਟੋਟਾਈਪ ਕਰਨਾ ਸਭ ਤੋਂ ਵਧੀਆ ਹੈ, ਖਾਸ ਤੌਰ 'ਤੇ, ਸ਼ਕਤੀ ਨੂੰ ਵੱਡਾ ਹੋਣ ਦਾ ਪਿੱਛਾ ਨਾ ਕਰੋ, ਕਿਉਂਕਿ ਸ਼ਕਤੀ ਵੱਡੀ ਹੈ; ਇੰਪੁੱਟ ਕੈਪੈਸੀਟੈਂਸ ਵੱਡਾ ਹੈ, ਬਦਲਿਆ ਗਿਆ ਹੈ ਅਤੇ ਐਕਸਾਈਟੇਸ਼ਨ ਸਰਕਟਾਂ ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਮੁੱਲ ਦੇ ਆਕਾਰ ਦੇ ਸਿੰਚਾਈ ਸਰਕਟ ਦੇ ਚਾਰਜ ਕਰੰਟ ਸੀਮਿਤ ਕਰਨ ਵਾਲੇ ਰੋਧਕ ਦੇ ਉਤੇਜਨਾ ਨਾਲ ਮੇਲ ਨਹੀਂ ਖਾਂਦੀਆਂ ਹਨ ਅਤੇ MOSFET ਦੀ ਇਨਪੁਟ ਸਮਰੱਥਾ ਵੱਡੇ ਦੀ ਸ਼ਕਤੀ ਦੀ ਚੋਣ ਨਾਲ ਸੰਬੰਧਿਤ ਹੈ ਦੀ ਸਮਰੱਥਾ ਵੱਡੀ ਹੈ, ਪਰ ਇੰਪੁੱਟ ਸਮਰੱਥਾ ਵੀ ਵੱਡੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਇੰਪੁੱਟ ਸਮਰੱਥਾ ਵੀ ਵੱਡੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਸ਼ਕਤੀ ਵੱਡੀ ਨਹੀਂ ਹੈ।

ਇਨਪੁਟ ਸਮਰੱਥਾ ਵੀ ਵੱਡੀ ਹੈ, ਉਤੇਜਨਾ ਸਰਕਟ ਚੰਗਾ ਨਹੀਂ ਹੈ, ਜੋ ਬਦਲੇ ਵਿੱਚ MOSFET ਨੂੰ ਚਾਲੂ ਅਤੇ ਬੰਦ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ ਨੂੰ ਹੋਰ ਖਰਾਬ ਬਣਾ ਦੇਵੇਗਾ। ਇਸ ਪੈਰਾਮੀਟਰ ਦੀ ਇਨਪੁਟ ਸਮਰੱਥਾ ਨੂੰ ਧਿਆਨ ਵਿੱਚ ਰੱਖਦੇ ਹੋਏ, MOSFETs ਦੇ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਮਾਡਲਾਂ ਦੀ ਤਬਦੀਲੀ ਦਿਖਾਉਂਦਾ ਹੈ।

ਉਦਾਹਰਨ ਲਈ, ਇੱਕ 42-ਇੰਚ ਐਲਸੀਡੀ ਟੀਵੀ ਬੈਕਲਾਈਟ ਹਾਈ-ਵੋਲਟੇਜ ਬੋਰਡ ਨੁਕਸਾਨ ਹੈ, ਅੰਦਰੂਨੀ ਉੱਚ-ਪਾਵਰ MOSFET ਨੁਕਸਾਨ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਨ ਤੋਂ ਬਾਅਦ, ਕਿਉਂਕਿ ਬਦਲਣ ਦਾ ਕੋਈ ਪ੍ਰੋਟੋਟਾਈਪ ਨੰਬਰ ਨਹੀਂ ਹੈ, ਇੱਕ ਵੋਲਟੇਜ ਦੀ ਚੋਣ, ਮੌਜੂਦਾ, ਪਾਵਰ ਤੋਂ ਘੱਟ ਨਹੀਂ ਹਨ. ਅਸਲ MOSFET ਬਦਲੀ, ਨਤੀਜਾ ਇਹ ਹੈ ਕਿ ਬੈਕਲਾਈਟ ਟਿਊਬ ਇੱਕ ਨਿਰੰਤਰ ਫਲਿੱਕਰ (ਸ਼ੁਰੂਆਤ ਦੀਆਂ ਮੁਸ਼ਕਲਾਂ) ਜਾਪਦੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਅੰਤ ਵਿੱਚ ਹੱਲ ਕਰਨ ਲਈ ਉਸੇ ਕਿਸਮ ਦੀ ਮੂਲ ਨਾਲ ਬਦਲ ਦਿੱਤੀ ਗਈ ਹੈ। ਸਮੱਸਿਆ

ਉੱਚ-ਸ਼ਕਤੀ ਵਾਲੇ MOSFET ਨੂੰ ਨੁਕਸਾਨ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ, ਪਰਫਿਊਜ਼ਨ ਸਰਕਟ ਦੇ ਇਸਦੇ ਪੈਰੀਫਿਰਲ ਕੰਪੋਨੈਂਟਸ ਨੂੰ ਬਦਲਣਾ ਵੀ ਲਾਜ਼ਮੀ ਹੈ, ਕਿਉਂਕਿ MOSFET ਨੂੰ ਨੁਕਸਾਨ MOSFET ਨੂੰ ਨੁਕਸਾਨ ਹੋਣ ਕਾਰਨ ਖਰਾਬ ਪਰਫਿਊਜ਼ਨ ਸਰਕਟ ਕੰਪੋਨੈਂਟ ਵੀ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਭਾਵੇਂ MOSFET ਖੁਦ ਖਰਾਬ ਹੋ ਗਿਆ ਹੋਵੇ, ਜਿਸ ਪਲ MOSFET ਟੁੱਟ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਪਰਫਿਊਜ਼ਨ ਸਰਕਟ ਦੇ ਹਿੱਸੇ ਵੀ ਨੁਕਸਾਨਦੇਹ ਹੁੰਦੇ ਹਨ ਅਤੇ ਉਹਨਾਂ ਨੂੰ ਬਦਲਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ।

ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਸਾਡੇ ਕੋਲ ਏ3 ਸਵਿਚਿੰਗ ਪਾਵਰ ਸਪਲਾਈ ਦੀ ਮੁਰੰਮਤ ਵਿੱਚ ਬਹੁਤ ਚਲਾਕ ਰਿਪੇਅਰ ਮਾਸਟਰ ਹੈ; ਜਿੰਨਾ ਚਿਰ ਸਵਿਚਿੰਗ ਟਿਊਬ ਟੁੱਟਣ ਲਈ ਪਾਈ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਇਹ 2SC3807 ਐਕਸਾਈਟੇਸ਼ਨ ਟਿਊਬ ਦਾ ਵੀ ਸਾਹਮਣੇ ਵਾਲਾ ਹਿੱਸਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਉਸੇ ਕਾਰਨ ਨੂੰ ਬਦਲਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ (ਹਾਲਾਂਕਿ 2SC3807 ਟਿਊਬ, ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਨਾਲ ਮਾਪੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ)।